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全自动IC检测分选编带设备

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全自动IC检测分选编带设备

WTR IC检测分选编带设备是一种专用于IC芯片六面外观检测的高速分选机。将未塑封的裸Die从蓝膜取起，通过六面外观检测和近红外检测，最终放入编带中。

应用场景：主要应用于WLCSP工艺，尤其是射频前端行业，如滤波器，射频开关，功率放大器等。

产品咨询电话：13811928592（毛总）
产品咨询邮箱：jian.mao@incubecn.com

  • 兼容12寸、8寸、6寸 蓝膜 to 编带

  • 产品尺寸：0.2x0.4 ~ 7x7 mm

  • 六面外观检，IR检测

  • 有效控制芯片接触力，减少芯片损伤

  • UPH：≥ 45K （1x1mm Die size）

  • 支持 SECS/GEM接口协议

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